Participants: Karsten Jørgensen BK Medical Kirsten Stentoft-Hansen Danfoss Martin S. Mallan DEIF Leif Madsen (Helle Rønsberg) (Anders B Kentved) (Per Thåstrup) (Kim Zachariassen) Lisbeth Reindel FOSS Henrik Kristensen G&J Thomas Young Olesen Lars Rimestad Kenneth Palm MAN Jens Juel Nielsen Martin Professional Valter Loll NOKIA Morten Løgstrup NOKIA Søren Valentin Stentoft Oticon Christina Svensen Oticon Poul Hilding Andersson Oticon Peter Werner Christensen Qualcon/NNE Pharmaplan Peter Rimmen Vestas 1/6
Absent: Reinhard Iversen APC Danmark Ole Rindom Bang & Olufsen Kim Boll Jensen Bolls Rådgivning Bent Jørgensen Danfoss Thomas Lyneborg FOCON Keld Bjernemose FOSS Michael Barner Nielsen Erik Albrechtsen Ole Harder Petersen Jesper K. Konge Gåsdal Bygningsindustri Carsten Nielsen Kamstrup Kurt Stockholm Kamstrup Bo Øllgaard Rasmussen Lattec Michael Jensen Lattec Kenneth Haldbæk MAN Bo Uldall Vind Nielsen MAN Kaare Michelsen Motorola Michael Urup NOKIA Carsten Mølgaard Kristensen Novo Elena Kozina Novo Ditlef Bucher Novo Tage Elm Radiometer Casper Bjerkhof Thrane & Thrane Søren L. Poulsen Tricon Erik Løber Vestas Anders Hørning Vestas Convenor: Leif Madsen, Concerning: Erfa 6 Pålidelighed Date & Time: From: 08/02/26 9.00 To: 08/02/26 15.30 Place:, Venlighedsvej 4 Note taker: 2970 Hørsholm Jens Juel Nielsen, Martin Professional Next meetings: Q2 2008-22/5, Martin Professional v/jens Juel Nielsen Q3 2008-9/9, NOKIA v/morten Løgstrup Q4 2008-11/11, BK Medical v/karsten Jørgensen 2/6
Agenda: Item Description 1. Præsentation af v/leif Madsen 2. Resultaterne fra SPM-175 v/anders B. Kentved 3. HACT (Highly Accelerated Corrosion Test) v/anders B. Kentved 4. Feedback fra RAMS v/valter Loll og Kirsten Stentoft 5. EMC & magnetisk påvirkninger v/per Thåstrup Jensen 6. Roadmap to RoHS v/leif Madsen 7. Frokost 8. Præsentation af nye muligheder i SEM, SAM og X-ray analyser hos v/helle Rønsberg og Kim Zachariassen 9. Fit for Use/Quality by Design v/peter W. Christensen 10. Bordet rundt og eventuelt. 11. Emner til næste møde 1. Præsentation af Delta og deres faciliteter i de tre hovedafdelinger som er mikroelektronik, lys/optik og elektronik/akustik. 2. Indslag omkring korrosion af elektriske samlinger i fugtigt miljø udarbejdet i forbindelse med SPM-175 projektet. Rapporten indeholder generelle forhold der gør sig gældende for korrosion i forskellige miljøer samt en guideline med gode tips. Se rapporten på www.spm-erfa.dk Angående de udførte test som er dokumenteret i rapporten vedr. kontaktsmøremidler, blev der stillet spørgsmål til det statistiske grundlag samt manglende analyse af overflader. Der blev henvist til at det er almindelig kendt at kvaliteten af overfladebehandlingen tit kan svinge og dette derfor kan bidrage med en fejlvisning med enkelte prøver. 3/6
3. Indslag omkring status på HACT som er en accelereret korrosionstest, hvor det er målet at kunne opnå det samme korrosionsniveau, som man ser ude i marken blot efter en uge. Problemet med de test man har i dag er at det f.eks. tager 21 eller 56 dage før man har et resultat og det alligevel ikke ligner det man ofte så ser når produktet har været i brug. Ideen er at lave en test som er en mellemting mellem direkte saltsyre og en almindelig korrosionstest over flere måneder. Dette gøres ved at anvende den optimale høje temperatur samt tilsætte luftcirkulation for iltning og periodisk nedkøling med koldvandsbrusning for at opnå indtrængningseffekt. Status for nuværende test viser at fejl som ofte ses i marken kan genskabes efter ca. 17 dage så projektet er godt på vej. Det skal dog bemærkes at det absolut ikke er lige meget hvilke forureningskilder man anvender og det derfor kan give misvisende resultater i forhold til det aktuelle miljø. Saltsyre er anvendt i dette projekt efter feedback fra de samarbejdspartnere der pt. har givet input til projektet. 4. Nyheder fra RAMS hvor Danmark var godt repræsenteret med 10 deltagere ud af i alt 700 deltagere som har kunnet deltage i 33 seminarer fordelt over fire dage. Den generelle trend og fokus i år var at MTBF efterhånden er på vej ud og M(t) er afløseren, også kaldet MCF blandt mange navne. Hertil fokus på at finde Failure Modes, indsamle informationer fra markedet og anvendelse af store reviews for at undgå Black spots. Interessante emner som er udleveret ved mødet *Accelerated Reliability Growth Testing and Data Analysis *Probabilistic Models and Statistical Methods in Reliability *Optimizing the Number of Failure modes for Design Analysis Based on Physics of Failure *Electronics in Harsh Environments Product Verification and Validation *Reliability Predictions More than the Sum of the Parts Alt materiale er i år på elektronisk form og kan rekvireres ved venlig henvendelse til Valter Loll. 5. Indslag omkring EMC og magnetiske påvirkninger, med fokus på hvad der sker når man udsætter et produkt for en ESD afladning. Det er f.eks. en kendsgerning at sådanne udladninger vil kunne overføres elektromagnetisk i området 1GHz til nærliggende ledere (loops) og f.eks. fremprovokere et meget kort logisk skift i et digitalt kredsløb. Derfor bør man først og fremmest afskærme eller lave indirekte ESD beskyttelse når man designer nye konstruktioner. 4/6
6. Flyttes til næste møde hos Martin Professional. 7. Frokost i kantinen. 8. Rundvisning hos Delta ved nye muligheder, SEM (Scanning Electron Microscope), SAM (ultralydsscanning af komponenter i MHz området til f.eks. detektering af delaminering) og ny X-ray inspektionsanlæg. 9. Præsentation af Quality by Design som er et paradigmeskift indenfor design og fremstillingsstrategi på det farmaceutiske område. Denne branche har længe været hæmmet af alt for meget papirarbejde omkring godkendelse, og som en følge deraf haft et dårligt produktionsafkast som typisk har ligget på 2 sigma. Der blev vist en god præsentation som illustrer hvor vigtigt det er at forbedre og fjerne risikoelementer gennem designfasen for at få et godt produktionsafkast. Disse normer vil også blive et krav til de komponenter der indgår i produktionen så dette vil ligeledes få konsekvenser for andre brancher som er typiske underleverandører. 10. Diverse emner fra bordet rundt - Er du interesseret i Green belt SixSigma med Simon Barnard ved ferskvandscenteret i Silkeborg? Et kursus er planlagt til før sommerferien og yderlig information kan rekvireres ved henvendelse til Palle Haderslev på mobil 25 46 23 10 - Pålidelighedskursus afholdes for tredje gang i Kolding og der skulle angiveligt være tre pladsen tilbage efter et par afbud, kontakt HTVM for reservation www.htvm.dk - Intro til Lean, SixSigma og Poka Yoke holdes den. 2. april, kontakt Valter Loll for nærmere information. - Er du interesseret i Minitab kursus så køre disse konstant, se http://www.minitab.com/ltd/training/schedule.aspx for kursusafholdelse i UK 5/6
11. Emner til næste møder 22/5 Møde hos Martin Professional 1. 9.00 Velkomst og gennemgang af referat fra sidste og evt. forrige møde v/jens Juel Nielsen 2. 9.15 Temaformiddag omkring FMEA til fælles diskussion med oplæg fra anvendelse i design v/(evt. Martin Professional) og produktion v/peter W. Christensen 3. 12.00 Frokost 4. 12.30 Præsentationsvideo og demo af lysshow samt en tur gennem udvikling og test v/jens Juel Nielsen 5. Roadmap to RoHS v/leif Madsen 6. Præsentation af standard omkring Hardware/Software test IEC62429 v/valter Loll 7. Delresultater fra CELCORR gruppen v/kirsten Stentoft eller repræsentant fra DTU 8. Indtryk fra www.arsymposium.org d.26-28 marts i Frankfurt v/poul Hilding Andersen 9. Bordet rundt og emner til næste møde hos NOKIA 9/9 Møde hos Nokia med temadag omkring specifikationsgrader iht. angivelse af pålidelighed overfor kunder fremsat af Kirsten Stentoft, hertil diskussion omkring MTBF. 11/11 Møde hos BK Medical: Temadag med udgangspunkt i accelereret test og ikke kun HALT fremsat af Lisbeth Reindel 08/03/03 Jens Juel Nielsen Martin Professional A/S 6/6